Larbalestier D.C., Parrell J.A., Hellstrom E.E., Jiang J., Trociewitz U.P., Huang Y., Kametani F., Barua S., Oz Y., Hossain S.I., Cooper J., Miller E., Oloye T.A.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, wires round, fabrication, PIT process, critical caracteristics, critical current, distribution, new, n-value, Jc/B curves, experimental results, comparison
Lu J., Levitan J., Lee P., Cooley L., Larbalestier D.C., Kim Y., Trociewitz U.P., Bosque E.S., Davis D., English L., Hellstrom E., Jiang J., Kametani F., Martin E., Jones J., Juliao A., Bradford G., Barua S., Hossain I., Oz Y., Miller G., Gillman J.
Hahn S., Kim Y., Larbalestier D., Chen P., Jiang J., Hellstrom E., Kametani F., Trociewitz U., Lu J., Griffin V., Hilton D., Starch W., Davis D., Matras M., Francis A., Boebinger M., Bosque E., Constantinescu A., English L., Oz Y.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.